Mikro Ölçekten Nano Ölçeğe: Yüzey Karakterizasyonunda Yeni Bir Dönem!

Karadeniz İleri Teknoloji Araştırma ve Uygulama Merkezi Yüzey Karakterizasyon Altyapısı Yeni Cihazlarla Güçlendi

KİTAM Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) ve 3 Boyutlu Optik Profilometre Analiz Hizmetine Başladı

Ondokuz Mayıs Üniversitesi (OMÜ) bünyesinde faaliyet gösteren Karadeniz İleri Teknoloji Araştırma ve Uygulama Merkezi (KİTAM), bilimsel araştırma ve ileri malzeme karakterizasyonu altyapısını güçlendirmek amacıyla bünyesine kazandırdığı Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) ve 3 Boyutlu Optik Profilometre cihazlarının kurulumları tamamlanarak analiz hizmetleri başladı.

Malzeme yüzeylerinin mikro ve nano ölçekte detaylı biçimde incelenmesine olanak sağlayan bu sistemler; malzeme bilimi ve mühendisliği, nanoteknoloji, ince film ve kaplama teknolojileri, elektronik, yarı iletkenler, biyomalzemeler ve polimer teknolojileri başta olmak üzere pek çok alanda yürütülen bilimsel araştırmalara katkı sağlayacak.

Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)

KİTAM bünyesinde hizmete alınan Park Systems XE7 Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM), malzeme yüzeylerinin nanometre ölçeğinde yüksek çözünürlükle görüntülenmesini ve yüzey morfolojisinin ayrıntılı biçimde karakterize edilmesini sağlayan ileri bir analiz sistemi.

Gerçekleştirilebilecek başlıca analizler:

Nano ölçekte iki ve üç boyutlu (2D/3D) yüzey topografyası görüntüleme
Nanometrik yüzey pürüzlülüğü ve yükseklik analizleri
İnce film ve kaplamaların yüzey morfolojisinin karakterizasyonu
Nanopartikül ve nanoyapıların boyut, yükseklik ve dağılım özelliklerinin incelenmesi
Yüzeydeki tane, ada ve benzeri nanoyapıların morfolojik değerlendirilmesi
Yüzey profili ve yerel topografik farklılıkların belirlenmesi

3 Boyutlu Optik Profilometre

Araştırma merkezi bünyesinde hizmete alınan Filmetrics Profilm3D Optik Profilometre, temassız optik ölçüm teknolojisi sayesinde malzeme yüzeylerinin üç boyutlu olarak görüntülenmesine ve yüzey topografyası, pürüzlülük ve geometrik özelliklerinin yüksek hassasiyetle karakterize edilmesine olanak sağlıyor.

Gerçekleştirilebilecek başlıca analizler:

İki ve üç boyutlu (2D/3D) yüzey topografyası analizleri
Yüzey pürüzlülüğü ölçümleri (Ra, Rq, Sa, Sq vb.)
İnce film ve kaplamalarda basamak yüksekliği ve uygun numunelerde kalınlık ölçümleri
Yüzey profili ve geometrik özelliklerin belirlenmesi
Aşınma izleri, çizikler ve yüzey hasarlarının incelenmesi
Yüzey yüksekliği, derinliği ve hacimsel özelliklerin değerlendirilmesi

Mikro Ölçekten Nano Ölçeğe Kapsamlı Karakterizasyon

Birbirini tamamlayan ölçüm yeteneklerine sahip bu iki cihaz sayesinde malzeme yüzeylerinin farklı uzunluk ölçeklerinde detaylı biçimde karakterize edilmesi mümkün hale gelmiş oldu.

Özellikle ince film ve kaplama teknolojileri, nanoelektronik, fotovoltaik malzemeler, yarı iletkenler ve fonksiyonel yüzeyler alanlarında yürütülen çalışmalarda yüzey topografyası, pürüzlülük ve morfolojik özelliklerin hassas biçimde incelenebilmesi, merkezimizin ileri analiz kapasitesine önemli katkı sağlayacak. 

KİTAM’ın yeni analiz altyapısıyla bilimsel araştırma projelerine, lisansüstü tez çalışmalarına, disiplinler arası araştırmalara, ulusal ve uluslararası bilimsel iş birliklerine ve sanayiye yönelik Ar-Ge ve kalite kontrol faaliyetlerine katkı sunması hedefleniyor.

Yeni cihazlar, Ondokuz Mayıs Üniversitesi araştırmacılarının yanı sıra diğer üniversiteler, kamu kurumları ve sanayi kuruluşlarının araştırma-geliştirme çalışmalarına hizmet vermeye başladı.

Karadeniz İleri Teknoloji Araştırma ve Uygulama Merkezi, güçlenen teknolojik altyapısıyla nitelikli bilimsel araştırmaları, yenilikçi teknolojilerin geliştirilmesini ve üniversite-sanayi iş birliklerini desteklemeye devam ediyor.